二手 KLA / TENCOR Archer AIM+ #9144983 待售

KLA / TENCOR Archer AIM+
ID: 9144983
优质的: 2006
Overlay inspection system 2006 vintage.
KLA/TENCOR Archer AIM+是一种自动化的掩模和晶圆检测设备,为先进的设备开发提供高清成像、先进的测量精度和高通量。该系统将先进的掩码和晶圆检测技术与先进的算法结合在一起,提供了一个高效、自动化的过程,大大提高了设备产量。KLA Archer AIM+单元利用亮场和暗场成像技术检测模具、口罩和封装顶部等基板上的缺陷。明亮的磁场为掩码、封装和翻转芯片提供高对比度成像,从而能够快速检查缺陷并实现精确的局部分析。暗场成像用于晶圆图像和扫描,使机器能够检测对比度较低的基板上的缺陷。该工具对掩模和基板执行自动对齐和对焦扫描,并支持多种计量功能。它具有自动化的缺陷分类,以及硬件加速的图像缩放功能,以支持高精度和高精度。该资产可提供快速的图像处理速度,从而缩短运行时间并加快周转时间。还优化了多种缺陷类型的速度和精度,如颗粒缺陷、角纹缺陷、窄线缺陷和模具移位检测。通过自动化检测过程,TENCOR Archer AIM+降低了人工成本,提高了生产效率。其先进的算法,洞察设计过程和直观的导航工具提高整体精度和产量。此外,Archer AIM+还提供了集成分析,可深入了解生产数据。这些见解使用户能够确定需要改进的领域,并优化其流程以提高产量。总体而言,KLA/TENCOR Archer AIM+是一种自动掩码和晶圆检测模型,可提供高清成像、先进的测量精度和高通量,提高设备产量。它通过快速的处理速度和自动缺陷分类,以及直观的导航和分析集成,帮助优化设备制造。
还没有评论