二手 KLA / TENCOR Archer AIM+ #9202700 待售

KLA/TENCOR Archer AIM+是半导体制造商用来保证生产过程质量和精确度的自动化掩模和晶圆检验设备。该系统使用先进的成像和分析算法来检测半导体器件的掩模、晶圆和工艺层上的缺陷。KLA Archer AIM+单元构建在PixelTRAK 1000、SiliconVision XR、ProcessVerify、GEMIN3和IMAGE五个独立的组件上。每个组件都有独特的功能来简化掩模和晶片检查过程并提供准确的结果。PixelTRAK 1000是一种图像采集机器，可以弥合手动和自动检查过程之间的性能差距。该工具包括一个CCD摄像头,用于捕获从平板、滚筒或半导体载波送入资产的掩模或晶片的高分辨率图像。可以针对所有可能的缺陷和检查组合对图像进行修改和引用,如缺陷检测类型、摄像机角度和图像窗口设置。SiliconVision XR是一种功能强大的图像分析工具,旨在生成有关掩模或晶圆上缺陷的更详细和精确的信息。该平台利用模式识别算法、三维成像和机器学习技术，有效识别表面、芯片和设备缺陷。ProcessVerify是一个集成的审查平台,旨在提高生产效率并降低运营成本。该技术允许公司跟踪检查过程中发生的所有更改,包括缺陷位置、缺陷分类和自动操作。GEMIN 3是一个测量模型，旨在测量和分析在生产和检验过程的不同阶段延伸特征的表面形状。该设备能够测量深度范围可达5m的物体和宽达10.7mm的视野。最后,IMAGE提供自动缺陷检查和分类功能,可用于保证产品质量。该系统配备了专门的算法来识别模式、皱纹、裂纹、灰尘以及任何其他类型的不规则性。借助人工智能，单位可以提供深入的分析和详细的缺陷数据。TENCOR Archer AIM+套件是一款功能强大、易于使用的用于掩模和晶圆检测的机器。它为缺陷检测、图像分析和过程控制提供了多种功能，是半导体制造商的理想选择。