二手 KLA / TENCOR Archer XT+ #117108 待售

KLA/TENCOR Archer XT+是一种用于检测集成电路和半导体封装电路缺陷的掩模和晶圆检测设备。该系统非常适合检查纳米结构，因为它具有特殊的配置，可提供高度敏感的光学平台。此外，该装置拥有两台高效干涉仪，一台用于检查可见光，另一台用于检查近红外射程。与传统显微镜相比，这提供了更大的景深，从而在检查过程中提高了准确度。机器利用光波穿过电路和设备的纳米结构，从而能够进行彻底的评估。通过使用自动图像处理，该工具能够比较对象并检测任何缺陷，如线缘粗糙度或连续断裂。此外,资产还提供高级功能,例如可调节的变焦放大倍率,从而能够对小型功能进行详细分析和描述。KLA Archer XT+配备了直观的软件，可让用户调整灵敏度、检查面积和图像采集等各种参数。该模型还为用户提供了几种可视化技术，如迭加和假彩色成像选项。这有助于用户快速检测任何缺陷。该设备的设计允许快速、方便的设置，使其成为工业应用的绝佳选择。此外，该系统还可以连接到其他系统和机器，以实现检查任务的高效自动化。TENCOR Archer XT+还提供了高级欺诈和假冒检测功能，允许安全可靠的数据安全和可追踪性单元。Archer XT+是用于掩模和晶圆检测的最先进的系统之一，其优异的性能和特点使其成为检测纳米结构的理想选择。凭借其可靠的检测能力和直观的软件，KLA/TENCOR Archer XT+在广泛的检测过程中一定能提供出色的效果。