二手 KLA / TENCOR Archer XT #9165076 待售

KLA / TENCOR Archer XT
ID: 9165076
晶圆大小: 12"
优质的: 2006
Overlay measurement system, 12" 2006 vintage.
KLA/TENCOR Archer XT是一种业界领先的用于半导体制造高级工艺控制的面膜晶圆检测设备。该技术用于集成电路等相关产品的生产,具有高分辨率成像和模式识别能力。该系统能够识别到一微米以下的缺陷,并提供业界最先进的视觉效果和缺陷分析功能。它有能力对半导体器件进行快速的在线、蚀刻前和蚀刻后检查,以及详细的多级掩模检查和薄膜计量。KLA Archer XT配备了专有的双层成像,利用模式识别算法和高分辨率图像的独特组合。这种成像和缺陷检测技术的结合,使该单元与市场上其他可比的选项脱颖而出。TENCOR Archer XT使用两个可调成像系统来捕获晶圆级的高分辨率"顶视图"图像和掩码级的低分辨率"底视图"图像。它还能够生成详细的缺陷报告,允许用户分析潜在缺陷站点并了解其起源或基本原因。Archer XT还能够生成各种复杂的图形,这些图形可以显示给定制造过程随时间推移的发展趋势。正是这类分析使得KLA/TENCOR Archer XT成为保持半导体制造机先进工艺控制需求的理想选择。KLA Archer XT的综合功能使其成为适用于任何环境的通用、可靠的掩码和晶圆检查工具。该资产的设计还便于与现有的制造工艺集成,并且向后兼容其他KLA产品。这意味着模型在新一代产品线中的操作方式与原始系统相同。使用TENCOR Archer XT可以简化制造生产线的过程控制要求,并显着提高生成一组高度可行的缺陷分析数据的几率。数据分析可用于积极主动地进行过程控制,从而避免成本高昂且耗时的纠正过程。总体而言,Archer XT是一款先进的掩码和晶片检查设备,可提供一流的缺陷分析功能、详细的图形以及快速的在线前、后蚀刻检查。该系统有助于高级流程控制,并允许用户在任何潜在缺陷之前保持领先。KLA/TENCOR Archer XT是任何半导体制造环境的强大工具,为在不断发展的集成电路生产世界中保持竞争力提供了必要的能力。
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