二手 KLA / TENCOR Archer XT+ #9221904 待售

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ID: 9221904
晶圆大小: 12"
优质的: 2007
Overlay measurement system, 12" 2007 vintage.
KLA/TENCOR Archer XT+是一种突破性的掩模和晶圆检测设备,设计用于使用下一代掩模和晶圆工艺技术。该系统具有强大而灵活的图像分析功能,可以快速识别掩模和晶片中的潜在缺陷,从而允许制造商在制造开始之前采取纠正措施。该单元由高级光学和图像处理的强大组合组成,使其能够快速准确地捕获和处理图像。该机包括一个与智能分析算法集成的高清多波长成像工具。这使得它能够快速准确地检测到掩模和晶片中的潜在缺陷。该工具的设计目的是对图像进行快速和精确的分析,以查明潜在的问题,如粒子、污染物、迭加误差、反射率降低的区域和其他不规则之处。该资产采用灵活的体系结构设计,可轻松扩展并与其他技术和系统集成。这允许模型用于各种应用程序和生产环境。设备无需额外的设备或修改,从而减少了安装时间和总体成本。KLA Archer XT+提供世界级的图像分析和缺陷检测功能。其领先的光学和图像处理算法为用户提供了高度准确的结果,并允许对大型图像集进行快速分析。该系统包括用户友好的图形界面工具,使用户能够轻松解释数据并快速解决潜在问题。该单元使用户有信心在流程的每个步骤中建立质量。根据配置的不同,机器可以检测到不同类型的缺陷,包括颗粒物、污染物、迭加误差和底切。用户可以选择使用更高级的算法和图像处理选项来更准确地识别和解决潜在问题。该工具与一系列生产环境高度兼容,能够在多种条件下运行,如高湿度、低光照条件和振动。这样可以确保用户能够及时准确可靠地识别潜在问题,而不管他们所处的环境如何。TENCOR Archer XT+旨在让制造商有信心快速解决潜在问题,并保持产品质量的最高水平。其先进的光学和智能图像分析算法为用户提供准确、及时的结果,而其灵活、可扩展的体系结构则确保了快速的设置和最短的停机时间。
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