二手 KLA / TENCOR Archer XT #9241251 待售

KLA/TENCOR Archer XT是一种掩模和晶圆检测设备，设计用于提供半导体IC的高速、高精度表征。利用先进的光学和成像技术，KLA Archer XT可以高分辨率识别晶片表面上的特征和缺陷，即使是非常小的尺度。成像方面，TENCOR Archer XT配备了双10-MPixel相机和高端光源。摄像机拍摄晶片表面的图像，并与其他信号相结合，生成详细的图像，以便对缺陷进行准确和快速的表征。光源提供了透彻检查设备所必需的最佳对比度和亮度水平。Archer XT还配备了模式识别系统，即使晶圆表面最小的缺陷也能精确检测。通过将复杂的算法与自适应光学相结合，这个单元能够检测到即使是最小的缺陷，否则很难看到。KLA/TENCOR Archer XT具有用户友好的GUI,易于操作。它还提供了多种功能强大的分析工具来帮助描述缺陷。这包括能够分析多个图像并将其与参考图像进行比较、覆盖单个图像以快速识别潜在缺陷以及导出和分析各种格式的数据。KLA Archer XT除了具有掩模和晶圆检查功能外，还能够测量迭加精度、线宽和关键设计尺寸等工艺参数，为用户提供有关其设计的详细信息。机器还可以测量特定情况模式下的缺陷，允许用户快速隔离问题并进一步调查。总体而言,TENCOR Archer XT是一种功能强大、用户友好的掩码和晶圆检查工具,可以快速识别和隔离各种格式和曲面中的缺陷。配备先进的光学、成像技术和精密的分析工具，非常适合IC表征和设计验证。