二手 KLA / TENCOR Archer XT+ #9365760 待售

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ID: 9365760
Overlay measurement system 2008 vintage.
KLA/TENCOR Archer XT+是一种先进的掩模和晶圆检测设备,提供完整、业界领先的并行检测覆盖范围。KLA Archer XT+专为晶片级检查应用而设计,具有高分辨率彩色相机,可在其大视场上以高精度捕捉掩模晶片的完整图像。该检测系统非常适合用于生产先进的掩模和晶片设备,因为XT+提供了对整个功能区域的快速高效的检测。XT+采用先进的检查算法和扫描硬件,以无与伦比的速度和准确性,同时检测塑料和玻璃掩模以及晶片上的缺陷。TENCOR Archer XT+还包括一套提供额外精度和性能级别的专用软件工具。该设备针对掩模和晶片生产应用进行了优化,并提供了一组独特的功能,旨在满足最高精度要求。Archer XT+配备了一个高分辨率的全彩相机,可在很大的视场范围内捕捉蒙版和晶圆表面的完整图像。XT+包括一系列模式检测、测量、可视化和分析工具,可帮助快速识别和分析整个曲面上的缺陷。该机器灵活的检查技术可在不同的基材材料上提供快速可靠的结果,并具有各种视觉辅助工具和指标,可帮助用户快速识别差异。KLA/TENCOR Archer XT+旨在提供强大的检查性能,并覆盖大视野。该工具具有主动成像资产,它以激光照明瞄准整个视野,不需要扫描。长寿命的成像几何形状可确保一段时间内性能一致,并提高缺陷检测的准确性。KLA Archer XT+还配备了能够测量表面地形的先进传感器,用于识别和分类包括坑、裂缝和针孔在内的小缺陷。XT+针对性能和易用性进行了优化,它具有直观的用户界面、高效的工作流选项以及易于导航的示例图像和数据库。该软件还提供强大的分析和报告能力,使用户能够优化模型性能和分析结果。TENCOR Archer XT+打造持久,占地面积紧凑,结构耐用。它是检测掩模和晶片材料缺陷的理想解决方桉,提供全面、高分辨率的检测解决方桉。
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