二手 KLA / TENCOR Candela CS20V #9412205 待售

KLA/TENCOR Candela CS20V是为半导体加工设计的高精度掩模和晶圆检测设备。该系统提供了先进的光学计量能力，并利用高精度成像传感器来识别蒙版和晶片图样中的缺陷和缺陷。该单元还提供了用于数据分析和缺陷表征的综合软件套件。机器使用两种成像技术来检测掩模和晶片的缺陷，包括色度成像和广角成像。色度成像用于检测缺陷与周围区域的颜色差异，而广角成像则可以检测各种大小、形状和深度的缺陷。该工具还包括一个离轴成像机械师，它使用不相干的光源来更精确地识别小的和难以检测的缺陷。KLA CANDELA CS 20 V还具有最先进的光学计量功能,使用户能够测量关键特征,包括晶圆上的关键结构特征和接触孔尺寸。资产将错综复杂的算法与先进的光学技术结合在一起，后者在微观层面上提供了对诸如深度、宽度和高度等主题的超精确测量。该模型包括自动检测缺陷的专有图像和信号处理软件，使用户能够跟踪信号中的微弱模式并识别微小缺陷。它还包括自动表征软件，进一步简化了缺陷的表征和检查过程。该软件易于使用,并与KLA其他产品无缝集成。TENCOR CANDELA CS 20-V是一种先进的检测设备,具有先进的光学计量能力、高精度成像传感器,以及用于数据分析和缺陷表征的强大软件套件。适用于半导体加工，以及其他检验应用，为检测掩模和晶片缺陷提供了可靠、准确和用户友好的解决方桉。