二手 KLA / TENCOR DFIMS Handler for SP1 #9262063 待售

KLA/TENCOR DFIMS SP1处理器是一种最先进的掩模和晶圆检测设备,其设计目的是满足当今最先进的半导体材料和工艺的最苛刻要求。该系统由许多旨在在缺陷检测和预防方面达到最高性能水平的技术组成。它提供了自动掩码和晶圆检查、粒子检测和缺陷确认功能。KLA DFIMS SP1处理器的核心是利用一套强大的图像处理和显微镜技术来检查面膜和晶片的表面缺陷。它采用了先进的光学单元，并通过深紫外激光进行增强，以执行高分辨率、大面积成像、模式匹配、缺陷分析和统计文档。利用这些方法，该机具有高度精确的缺陷定位能力，能够快速准确地识别缺陷。该工具还采用了独特的自动聚焦功能,可确保在最佳焦平面上拍摄检查图像,以实现资产检查能力的最大性能。这样可以确保最高的准确性和最短的检查时间。还包括一个专门的"自动阈值"特征,它可以准确识别掩模或晶圆表面上的粒子和其他小缺陷。除了图像处理能力外，TENCOR DFIMS Handler for SP1还配备了先进的缺陷分类模型。该设备用于对检测到的缺陷进行风险级别的实时分类和优先排序。这使系统能够确定每个检测到的缺陷的最合适的分辨率和响应。它还通过在没有任何用户干预的情况下自动识别出检测到的缺陷最合适的分辨率，大大简化了掩码和晶圆检查过程。总体而言,DFIMS Handler for SP1提供了一个功能强大、高度精确的解决方桉,用于检查面罩和晶片的表面缺陷。它结合了先进的图像处理技术和专门的缺陷分类功能，提供了最大的准确性、可靠性和速度。因此，它是半导体器件制造商寻找可靠、经济高效、精确的掩模和晶圆检测解决方桉的绝佳选择。