二手 KLA / TENCOR / ICOS CI-T120 #293794311 待售

KLA/TENCOR/ICOS CI-T120是一款功能强大的掩模和晶圆检测设备,旨在提高半导体制造业的缺陷管理和产量性能。该系统具有用于缺陷深度成像的高分辨率光学级，能够在短短60秒内扫描整个晶片。同时，该单元还配备了自动化缺陷分类算法，以最小的用户干预快速准确地识别和量化缺陷。此外，KLA CI T120还配备了原位校准机，以确保最佳性能和效果，使用户可以即时调整工具的灵敏度，以适应不断变化的工艺条件。ICOS CI T 120中的功能组合使其成为高级和常规成像应用的强大工具。资产的复杂算法允许使用高级功能（如粘合垫和拐角识别）,其结果将用于进一步的特征提取。这种先进的成像水平也有利于常规应用，如模式匹配分析和线宽测量。ICOS CI-T120的软件界面非常直观和直观，即使对于没有经验的用户也是如此。直观的菜单层次结构允许轻松导航到软件的许多功能,而高级缺陷分类算法和原位校准模型则允许对检查过程进行错综复杂的控制。总体而言,CI T120 Mask&Wafer Inspection Equipment是需要高级成像应用程序和自动缺陷分类的半导体制造商的理想解决方桉。其精密的算法和直观的用户界面使其成为高级和常规应用程序的强大工具，使用户能够以最小的操作员干预快速准确地识别和量化缺陷。