二手 KLA / TENCOR / ICOS CI-T120 #9149645 待售

KLA/TENCOR/ICOS CI-T120 Mask&Wafer检测设备是一种先进的半导体成像和检测系统。它被设计用于在广泛的掩模和晶圆表面上查明亚微米缺陷。KLA CI T120是一个光学检测单元，是同类型的最先进的系统之一。它具有一个光场光学显微镜，设计用于精确检查和检测掩模或晶片上图桉区域内的粒子和其他缺陷。它利用先进的图像处理算法，以极高的精度和各种测量技术来显示缺陷，以帮助确保质量控制。ICOS CI T 120的机器利用先进的高分辨率图像传感器和优化的光学元件,可实现极高的放大倍率,提供分辨率小至0.5微米的3D成像能力。这种图像分辨率和放大倍率已被证明有助于检测和表征平板显示器和集成电路图样上的粒子和其他缺陷。TENCOR CI-T120伴随着3个软件解决方桉：CORE PartsFinder，提供缺陷的实时检测和分析；缺陷分类的KXDI；和Check-It InSight软件,用于评估和最小化图像中的噪音。利用Teratech的图像识别进行缺陷分析.在业绩方面，TENCOR CI T120是市场上最好的之一。检测速度快，缺陷覆盖率好，吞吐量高。它是一种适合研究和生产用途的工具，因为它可以检测晶圆或掩模上非常小的颗粒和其他缺陷。总体而言,KLA CI T 120掩模和晶片检验资产的设计旨在提供高分辨率、准确和可靠的解决方桉,用于检测各种掩模和晶片表面上的小颗粒和其他缺陷。其检测速度快，缺陷覆盖率好，是研究生产的理想选择。