二手 KLA / TENCOR / ICOS CI-T130 #9389311 待售

KLA/TENCOR/ICOS CI-T130是一种掩模和晶片检测设备,旨在为检测先进半导体晶片上的关键模式元件提供高性能和准确性。该系统提供卓越的光学图像质量和分辨率，使全面的缺陷检查。它配备了两个晶片插槽，一个用于成像，一个用于模式验证，以及高精度的图像预处理和后处理功能，以确保一致的缺陷检测和分类结果。KLA CI-T130是一个先进和通用的单元，旨在提供高速和准确的缺陷审查。它装有高分辨率CCD相机，可以根据特定的成像要求量身定制。它拥有多种光学器件,能够执行各种成像技术,如微缺陷捕获、广域捕获、超高分辨率图像和横截面图像。机器还包括两个视频通道,用于在显示器或自动图像分析工具上查看。该资产易于操作,并提供直观的用户界面,以减少设置时间并优化性能和准确性。用户能够通过交互式图形菜单快速配置模型以进行高级缺陷检查和查看。可选的软件库可以优化特定缺陷类的检测,例如线缺陷、粒子缺陷、缺陷过程、密度级别和几何变化。可以利用先进的处理算法来减少错误结果并提高检测置信度。ICOS CI-T130具有广泛的可选在线功能,可支持完整的检查应用程序。这些功能包括掩码配准、晶圆映射、原位预防性维护、过程补偿和晶圆跟踪。它还包括一个可选的高性能图像处理软件包,可增强数据采集。总体而言，TENCOR CI-T130是一种用于掩模和晶圆检测的高能力设备。其先进的功能、强大的光学系统和精密的算法代表了技术创新的前沿，为制造商和测试工程师创造了理想的平台。该系统的灵活性、易用性和准确性使其能够作为一个完整的半导体检测解决方桉的基石。