二手 KLA / TENCOR / ICOS CI-T1X0 #293824128 待售

KLA/TENCOR/ICOS CI-T1X0是一种市场领先的先进掩模和晶片检测设备,专门设计用于检测和测量半导体光刻掩模和晶片的缺陷,精度和精度最高。从晶圆缺陷检测分析到完整的自动掩模检测过程，系统通过其特征丰富的功能集保证了最高质量的输出。其单元控制器高速执行过程控制和图像捕获任务，自动设置机器，并从每个测试中提取数据。其先进的视频处理电子设备以及传感器头提供了先进的数字算法和成像功能,可快速扫描和精确测量缺陷。它还具有精确的数字测量、高通量成像CCD摄像机以及利用先进数字算法的先进控制方法。KLA CI-T1X0兼容最新一代的蒙版和晶片生产和增强技术，包括微成像和增强图像捕获、子像素检测、自动边缘检查和缺陷映射。此外，利用其高速软件驱动过程，该工具最大限度地提高了检测效率和吞吐量。此外,该工具还具有自动磁带标记跟踪功能,以及先进的跟踪标记技术,这些技术与独特的模式识别技术结合使用,以确保在掩模缺陷检测的准确性。该资产还得到其用户界面的补充，用户界面是一个高度直观的图形界面，可最大限度地控制检查过程的所有阶段。它提供了多种功能,包括多种语言、自动校准、测试设置和其他功能。总之，ICOS CI-T1X0是一种功能强大且用途广泛的工具，在检查掩模和晶片时可确保最高质量的输出。通过利用先进的数字算法、高速软件驱动的流程和用户界面,它提供了无与伦比的用户体验。