二手 KLA / TENCOR / ICOS CI-T830 #293642451 待售

KLA/TENCOR/ICOS CI-T830掩模和晶圆检测设备是一种行业领先的工具，用于帮助检测半导体生产过程中的异常。KLA CI-T830允许通过其先进的光学和成像系统对掩模和晶片进行精确和准确的审查。ICOS CI-T830具有一个多维光学单元,旨在分析芯片的几个不同方面是否存在缺陷。这台机器能够一次检查几千个地点，并且能够探测到非常微小的微粒。该工具使用精确的分析算法来区分误报和实际缺陷。资产进一步利用两个高度敏感的CCD，可以连续扫描直径达25.4厘米的半导体晶圆。该模型能够在比类似的非KLA系统短得多的时间内扫描，在一小部分时间内处理具有亚微米特征大小的芯片。CI-T830还采用了ICOS SignalPlus技术,该技术结合了多种成像方法来确定设计特征和工艺特征之间的差异,直至子解决方桉级别。同样,他们的WaferEdge技术在最终产品中出现问题之前,可以识别子差分极限边缘未对准或芯片边缘散焦问题。除了检查外,TENCOR CI-T830还支持多种过程控制功能。这些特性允许设备在制造过程中用于提高产量和周期时间。该系统还兼容独特的光学器件，以适应不同的技术，例如3D换能器或定制的纳米粒。KLA/TENCOR/ICOS CI-T830是半导体生产过程中必不可少的宝贵工具。其精确、快速和通用的设备可以在生产缺陷成为昂贵的问题之前检测到这些缺陷。对于厂家来说，这台机器及时保证了可靠、优质的产品。