二手 KLA / TENCOR / PROMETRIX Archer 300 AIM #293604010 待售

KLA / TENCOR / PROMETRIX Archer 300 AIM
ID: 293604010
Overlay measurement system 2011 vintage.
KLA/TENCOR/PROMETRIX Archer 300 AIM是一种自动化的内联掩码和晶圆检测设备,专门为高级技术节点量身定制。KLA Archer 300 AIM是为大批量生产而设计的最先进的系统。它是一种可靠且经济高效的解决方桉,用于检查晶片和掩模的特征,如阵列缺陷、空隙、故障触点和焊料缺陷。TENCOR Archer 300 AIM是需要高精度、世界级成像和X射线检测能力的集成电路制造商的理想装置。PROMETRIX Archer 300 AIM利用先进的X射线成像技术和一套先进的算法。这使机器能够在不到15秒的时间内快速分析和识别晶圆/掩码上的缺陷。该工具还能够检测100至600纳米之间的特征。此外,该资产还能够检测空隙、线缘粗糙度和阵列缺陷。Archer 300的模块化设计确保了最大的灵活性和可扩展性。该型号配备了四个刀头,可以进行装备和编程,以同时检查多个口罩和晶片。Archer 300还包括一个集成的缺陷审查和分析站,允许操作员快速定位、分析和审查缺陷。Archer 300配备了先进的自动缺陷分类设备。此高级软件包能够近乎实时地识别缺陷并指定严重程度等级。此外,Archer 300 AIM采用直观的用户界面进行设计,使技术人员能够快速选择和修改检查设置。为确保最佳性能,KLA/TENCOR/PROMETRIX Archer 300 AIM的设计符合令人印象深刻的环境规格。系统能够承受高达35°C的温度。这确保了Archer 300能够检测到各种环境条件下的缺陷。此外,此设备还提供终身软件预订,确保您的Archer具有最新的检查功能。KLA Archer 300 AIM是一款先进且功能强大的面罩和晶圆检测机。这种先进的自动化解决方桉是一种可靠且经济高效的方法,可以快速高效地检查口罩和晶片是否存在各种缺陷。TENCOR Archer 300 AIM凭借其先进的算法和直观的用户界面,是实现产量最大化和优化效果的理想选择。
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