二手 KLA / TENCOR SP1-DLS #9012561 待售

KLA/TENCOR SP1-DLS是一种用于半导体加工的掩模和晶圆检测设备。它是一个全自动系统，利用先进的光学和图像处理算法，精确检查微芯片和基板上的高精度图样，以便检测小缺陷。KLA SP1 DLS采用扫描电子显微镜（SEM）和聚焦离子束（FIB）成像技术,可提供最大性能和最大收率。该设备能够以几纳米的分辨率检测和分类缺陷,从而使组件制造商能够减少或消除昂贵的手动检查。TENCOR SP 1-DLS配备了最先进的自动对焦功能,能够实时调整以获得最佳视角。此外,该机器还提供了多种对比度和亮度调整工具,以提高数据准确性。TENCOR SP1-DLS设计为完全集成到制造过程中，提供快速可靠的检测过程。该工具能够通过一次扫描同时检查多个芯片，从而提高吞吐量和缩短周期时间。此外,资产还提供高级缺陷分析和报告功能,以便在发现缺陷时能够更快地采取纠正措施。为确保最高质量控制,KLA/TENCOR SP 1-DLS配备了现代化的数据管理和通信能力。该模型可轻松配置为提供实时过程控制和对生产线的反馈。它还可以与常见的制造数据库集成，甚至可以与不同类型的统计过程控制系统链接，以优化产量，降低产品故障率。总体而言,TENCOR SP 1 DLS是一种先进的掩码和晶圆检测设备,在易于集成的自动化系统中提供卓越的准确性、吞吐量和数据准确性。其尖端的特性和集成能力使其适合各种半导体加工应用，并帮助元件制造商实现更好的生产产量和成本节约。