二手 KLA / TENCOR SP1-DLS #9267047 待售

KLA/TENCOR SP1-DLS是一种高级掩模和晶圆检验设备，设计用于半导体制造行业。该系统提供全面、高分辨率的成像,能够扫描各种材料,如光掩模、环氧树脂材料和防反射涂层。该单元使用最先进的光学成像获得材料的详细图像，提供快速、精确的成像，让用户快速识别潜在缺陷。机器内使用的光学元件使用先进的整体式光圈掩模设计,以帮助减少噪音和消除斑点,提供明显更高的分辨率图像。此工具还提供了一系列高级图像分析功能,提供高级算法以快速检测缺陷,同时最大限度地减少由分散信号引起的错误结果和错误警报。成像资产还允许在不同类型的样品之间进行快速转换,从而有助于减少或消除停机时间。KLA SP1 DLS使用超高分辨率探测器阵列,该阵列以每秒50帧的速度扫描材料,确保对所有材料进行一致的分析。用户甚至可以安装和配置特定于应用程序的检测算法，以便最适合他们的特定应用程序。此外，该模型还能够自动测量和跟踪不同的样品参数，如缺陷大小、形状、位置和密度。该设备还对检测到的缺陷进行自动分类,以提高效率。这些特性使得TENCOR SP 1-DLS系统成为一种可靠、高效的掩模和晶圆检测解决方桉。它具有高水平的成像和分析功能,非常适合任何需要高质量、高分辨率、可靠和准确的成像结果的操作。此单元非常适合寻找卓越的掩码和晶片缺陷检测功能的操作。