二手 KLA / TENCOR SP1-DLS #9283698 待售

KLA/TENCOR SP1-DLS是为先进的光掩模、单晶片和批量测试结构设计的前沿掩模和晶片检测设备。该系统用于检测光掩码和晶片中的任何缺陷,并能够在高速下同时扫描多达12个晶片/掩码。KLA SP1 DLS配备了多束激光传感器，能够一次捕获多幅图像。然后分析这些图像的缺陷,其大小从0.7 μ m到较大的缺陷。缺陷分析既可以手工完成，也可以借助熟练的操作员进行。TENCOR SP 1-DLS单元配备了自动编程和自动检查功能，使检查晶片和掩模更容易、更快。机器还有一个缺陷审查程序，允许用户分割、最小化、可视化、分析和报告缺陷位置。该工具可以处理多种材料，包括有机和无机薄膜，并且能够捕捉低反射率和高反射率表面的图像。KLA SP 1-DLS资产为用户提供高级缺陷检测、图像处理和数据分析。它利用实时技术扫描和分析大量数据，快速生成不同角度的多个图像。数据可以导出到任何第三方软件以进行进一步分析。该模型具有可自定义的参数,允许用户根据需要调整缺陷检测。TENCOR SP 1 DLS设备是市场上最先进的掩模和晶圆检测系统之一。此高级系统能够检测微小的缺陷,提供准确的数据分析和报告生成,并提供价格合理的定价。适用于多种应用，旨在为掩模和晶圆检测应用提供高性能和可靠性。