二手 KLA / TENCOR SP1-TBI #9249676 待售

KLA/TENCOR SP1-TBI是一种掩模和晶圆检测设备,旨在识别单个像素级别上集成电路中的缺陷。该系统采用先进的光学和自动化技术，以提供检查污染物面罩和晶片的速度和准确性。KLA SP1T-BI设计用于检查硅和不锈钢等多种材料和介质。TENCOR SP1 TBI中使用的先进成像单元结合了光学变焦能力和高分辨率数码相机。这种组合产生的图像分辨率大于200百万像素。捕获高分辨率、彩色、立体声和3D图像。然后使用4百万像素CCD处理这些图像,生成像素间距为0.05um的图像。KLA SP 1-TBI能够使用高速图像处理器快速分析图像。该处理器与高级算法协同工作,为用户提供所检查的特定晶片或掩模几何的广义视图,使他们能够确定材料中可能存在的缺陷。此处理器还允许在过滤出有害数据或误报时自动比较图像。KLA/TENCOR SP 1-TBI还配备了高级视觉软件,使其能够识别边缘、单个像素或其他物理特征。此软件可进行编程,以识别小至0.1微米的缺陷,允许用户检测和检查肉眼可能遗漏的单个和微小缺陷。此外，SP 1-TBI还具有其他对用户有利的功能，如自动晶片定位、自动映射功能以及用于检测晶片缺陷的一套分析。独特和创新的取景器功能允许用户实时查看图像，而无需等待数据处理。KLA SP1 TBI是开发非常精细的微型电路的重要工具。它常用于半导体工业，为质量控制目的提供详细的检验。KLA/TENCOR SP1 TBI结合了光学技术和先进的图像处理技术，能够提供极其精确的结果。凭借其强大的性能,这台机器是寻找和检查各种材料中最小缺陷的理想解决方桉。