二手 KLA / TENCOR SP1-TBI #9290815 待售

KLA/TENCOR SP1-TBI是一种用于半导体晶片光学和电气检测的掩模和晶片检测设备。该系统结合了高分辨率晶片成像、光谱图像分析和专用的电气测试能力，以确保所有晶片达到最高标准，满足所有制造商的要求。科军SP1T-BI单位进行的检查是光学和电气两种方法的结合。光学检查由一台高分辨率晶圆成像机组成，该机学习和存储一系列芯片布局，可以识别芯片布局中特征或结构的任何偏差。然后利用光谱图像分析来比较和测量各种布局元素之间的差异。这样,资产就可以检测到特征大小、形状、方向和详细程度方面的任何异常,以及由于过程未对齐或不符合要求而可能出现的任何缺陷。TENCOR SP1 TBI模型还具有专用的电气测试检测能力。设备的这一部分包括一个高速电气测试模块，能够测试和验证被检查设备的电气特性。KLA/TENCOR SP1T-BI通过测量阈值电压、泄漏电流、噪声余量和开关特性等器件参数，能够保证半导体晶片的电性能。KLA SP1-TBI系统能够处理各种类型的晶片和先进的晶片格式，包括硅、砷化氙和SOI技术。该单元还能够处理CMOS以外的各种技术，如MEMS、太阳能、BiCMOS和电力技术。该机器能够生成晶片特征和结构的2D和3D检查图像,并能够提供有关特征和结构是否符合客户要求的反馈。TENCOR SP 1 TBI工具是一个完整的多功能晶片检测解决方桉，可以提供晶片布局及其关联的电气参数的详细分析，确保晶片达到最高标准。KLA/TENCOR SP 1 TBI通过结合专用的电气测试模块、光谱图像分析和高分辨率晶圆成像，让制造商每次都能快速可靠地生产出质量最高的半导体产品。