二手 KLA / TENCOR SP2 #293698892 待售

KLA/TENCOR SP2是提供高精度扫描和图像分析的掩模和晶圆检测设备。它是将先进的半导体技术和光学技术结合在单一平台上进行过程控制的最先进的工具。KLA SP-2能够提供快速、自动化和准确的结果,用于检查和分析各种光掩模和晶片。TENCOR SP 2系统配备了多种不同的扫描和成像技术，有助于检测各种缺陷。这包括光束感应电流（OBIC）成像、亮场、暗场、差分干涉对比度（DIC）、相移成像（PSI）和红外成像。利用这些强大的扫描技术，SP2单元能够分析和检测小至4µm的缺陷。该机器的设计目的是提供快速的结果，快速快速、准确地分析和处理大量数据。其复杂的算法可以检测和量化缺陷，并可以添加统计过程控制（SPC）算法和缺陷聚类分析等附加功能。KLA SP 2还具有大量的自定义和标准图像工具和过滤器,使用户能够控制和灵活地最好地分析其数据。KLA SP2提供实时在线缺陷审查。这允许单个操作员同时查看许多不同检查字段中的缺陷位置。它还为远程决策提供基于Web的审查功能,确保数据和结果的准确性。此外,SP 2还能够与其他工业自动化过程（如晶圆和掩模载流器）集成。KLA/TENCOR SP 2也是高度可定制的,它提供了一系列自定义选项,允许用户根据自己的特定需求配置工具。它还包括易于使用的内置用户界面、允许数据共享和协作的强大网络以及高级数据处理选项。KLA/TENCOR SP-2为掩码和晶圆检查提供了一个全面的解决方桉,将强大的扫描和成像功能与高级软件和定制选项相结合。它是一种强大而可靠的资产,可确保准确检测缺陷、快速可靠的结果以及人员之间的高效协作。