二手 KLA / TENCOR SP2 #9199155 待售

KLA/TENCOR SP2是一种掩模和晶圆检测设备，设计用于提供极其精确的微量表面测量和缺陷检测能力。利用先进的扫描和成像技术,系统能够精确地解决最小的表面特征和缺陷。KLA SP-2利用在400-950纳米可见范围内操作的高性能CCD相机。使用高分辨率镜头捕获图像，然后通过强大的图像处理算法进行处理。这些算法检测不熟悉的特征，如"异物粒子"、位错、划痕和其他表面缺陷。然后存储图像以进行进一步分析。该单元在扫描和测量样品时非常重视速度和准确性。它的扫描速度高达每秒500万像素，换算成每小时200晶圆的最大扫描速率。可以使用多种多轴卡盘来支持大样本，PCI/SCSI接口允许对样本进行远程控制和处理。该机还可以升级高级镜头和额外的软件选项，以提高多功能性。例如，多点平面扫描选项允许TENCOR SP 2一次快速检查大面积区域。此外,扩展的动态范围功能可实现高精度测量,而使用专用软件（如多区域迭加功能）可提供高精度缺陷检测。KLA/TENCOR SP-2是一种先进的掩模和晶圆检测工具，可以快速准确地处理大量样品。凭借其高分辨率的成像功能和多种软件选项,SP-2确保了准确的缺陷检测和高度精确的测量。该资产是半导体生产中顶级质检的理想选择。