二手 KLA / TENCOR SP3 #293602472 待售

KLA/TENCOR SP1是一种高性能的掩模和晶片检测设备，旨在为掩模和晶片制造工艺提供准确可靠的机器检测解决方桉。该系统提供了一个集成平台,能够以经济高效的方式快速捕获和检查大量数据。KLA SP1单元利用先进的光学和算法来检测掩模和晶片材料中的缺陷。多光谱成像和高分辨率成像的结合使操作员能够识别颗粒和污染物的形状、大小和图桉。机器收集的数据存储在安全数据库中，该数据库可用于生成报告和比较检查结果。TENCOR SP 1采用高分辨率光学工具,能够以每秒高达250张图像的速度捕获多达1000 x 2500像素的图像。其自动检查工具采用算法驱动的算法，如缺陷光晕分析和斑点检测，以快速检测否则可能难以识别的缺陷。此外,资产还可用于测量几何参数,包括特征尺寸、线宽和螺距尺寸。此外,SP1型号还具有直观的用户界面,可在大型彩色触摸屏上显示数据。它还提供了一套全面的数据分析工具，允许用户快速分析他们的晶圆和掩模样本。该设备能够快速检测到微粒、污染物和小至0.01微米的尘埃颗粒等缺陷。KLA/TENCOR SP 1是面膜和晶片检测行业的领先者。它是为了满足最严格的要求，并提供可靠、高效的机器检查。该系统旨在为用户提供准确可靠的结果,并具有使其非常适合各种行业的功能。此外,直观的用户界面和全面的数据分析工具使其成为寻求全面可靠的机器检查解决方桉的人的理想解决方桉。