二手 KLA / TENCOR STARlight SL3 Series #9101332 待售

KLA/TENCOR STARlight SL3系列是一款前沿的检测设备,旨在对半导体制造业的掩模和晶片进行深入分析。该系统利用先进的成像技术，以较高的精度和分辨率检查产品的所有层。KLA STARlight SL3系列由SL3000、SL3200和SL3100三种型号组成。每种型号都有自己独特的功能，旨在满足各种客户的需求。该SL3000配备了高通量自动晶片检测仪和大面积晶片检测仪，用于检测掩模和晶片中的缺陷。SL3200系列采用晶片检测机，专为检查大面积晶片而设计，分辨率和精度都很高。SL3100模型提供了完整的晶片散焦能力和高分辨率传感器，用于检查面罩和晶片。TENCOR STARlight SL3系列提供了表面缺陷检测、缺陷隔离、CD和薄膜测量、迭加计量、光刻模式评估以及模模缺陷检测等多种检测功能。这些功能中的每一项都旨在为客户提供产品质量的全面视图。该工具还包括一个粒子检测功能，用于检测和隔离晶圆上的粒子污染物。除了提供卓越的产品检查功能外,STARlight SL3 Series还提供了许多高级软件功能,包括缺陷审查模块、自动缺陷修复器、关键尺寸分析工具、缺陷聚类工具和缺陷分析工具。这些软件功能优化了整个检查过程的工作流程,并确保客户能够快速发现缺陷并改进其过程控制。KLA/TENCOR STARlight SL3系列结合了两全其美：高性能成像技术和先进的软件工具。结合起来，这两个功能为客户提供了对产品质量的全面观察。该资产专为生产和研发客户设计,为他们提供提高质量和缩短周期所需的解决方桉。通过利用KLA STARlight SL3系列的先进成像技术和软件,客户能够确保其产品达到质量和一致性的最高标准。