二手 KLA / TENCOR Surfscan SP1-TBI #9314253 待售

KLA/TENCOR Surfscan SP1-TBI是一种自动掩模和晶片检测设备，用于检测芯片制造的光掩模和晶片阶段的缺陷。KLA Surfscan SP1-TBI提供高精度和全面的测量解决方桉,使用户能够快速准确地检测和分析缺陷。该系统包括一个高分辨率光学单元和一个串联成像机，能够实现超高吞吐量能力，用于检查最小的缺陷。这使用户能够在到达晶圆制造阶段之前快速准确地检测和分析缺陷。该工具还包括用于详细掩模和晶圆检查和分析的先进成像技术，允许用户在过程早期识别潜在缺陷。TENCOR Surfscan SP1-TBI提供了广泛的缺陷检测功能,这些功能通常超过其他常规掩码检查系统的功能。它配备了先进的统计模式识别技术和增强的模式搜索/检测算法等先进技术，用于检测难以发现的缺陷。它还利用先进的缺陷检测技术，如反射光成像技术和先进的光束偏转扫描技术来进行高精度的检测和分辨率。该资产便于用户使用，可轻松集成到现有的掩模和晶圆检测系统中。它也是完全可编程和定制的特定应用和需求。这使得模型非常高效和通用，允许用户根据自己的具体检查要求量身定制设备。此外，用户界面直观易用，允许快速操作和设置检查和分析任务。总体而言,Surfscan SP1-TBI是一个先进的自动化系统,使用户能够在芯片制造达到晶圆制造阶段之前快速准确地检测和分析缺陷。此单元提供全面的测量解决方桉和先进的成像技术,使其成为检测和分析潜在缺陷的宝贵工具。