二手 KLA / TENCOR Surfscan SP2 #293814035 待售
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ID: 293814035
Inspection system
UV laser
Defect map
Real-Time Defect Classification (RTDC)
Operating System: Windows
Advanced Illumination Optics
Powder Coat Painted Panels
Phoenix Dual FIMS Vacuum Wafer Handler (PP), 12"
4‑Color Light Tower (RGB)
Ion Shower for Phoenix Dual
XY Calibration Wafer, 12"
Dryer for COE.
KLA/TENCOR Surfscan SP2是一种基于全场光学临界尺寸(CD) SEM的掩模和晶片检测设备。它是为自动检查前端面膜和晶片而开发的一个紧凑且无维护的系统。KLA Surfscan SP2配备了一个精密的成像单元,能够生成即使是最复杂的掩模和晶圆结构的高质量图像。本机由单色场发射扫描电子显微镜(FE-SEM)、低温标本级和用于精确定位标本的电动XYZ级组成。FE-SEM的工作分辨率为0.2nm,可以检测小至4nm的结构。其集成的自动化测量和分析软件使用户能够从各层获取信息,这有助于评估样品质量。此外,TENCOR SURFSCAN SP2提供了对光束电流和冷却工具的精确控制,以保护样品免受损坏。Surfscan SP2还有一个直观的用户界面,可以让用户快速轻松地设置并开始检查,而无需参考手册。此外,资产还提供可靠性和可重复性能,以确保结果的准确性。此外,TENCOR Surfscan SP2还提供了一个快速可靠的检测样品的过程。利用自动聚焦反馈回路,可以快速调整焦点,获得准确的结果。设备提供了各种各样的扩展,包括缺陷审查、数据导出、审查数据库管理和过程控制。KLA SURFSCAN SP 2是掩模检查、晶圆评审、电路布局验证、光刻模拟、迭加分析、过程控制、故障分析等广泛半导体应用的理想选择。它支持PDK、BiCMOS和DRAM等不同技术,可用于检查多层结构。该系统能够集成AutoAdjust,这是一个功能强大的基于规则的工具,用于自动特征测量和缺陷报告。而且,它也可以用于缺陷分类和晶圆计量。总体而言,SURFSCAN SP 2是一个可靠、高效的掩模和晶圆检测单元,能够执行最复杂的分析。其先进的特性和能力使其成为所有半导体行业的理想选择。
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