二手 KLA / TENCOR WI-2250 #9379062 待售

KLA/TENCOR WI-2250是一种用于微观缺陷详细检测的掩模和晶圆检测设备。它利用高功率激光器和精密光学器件来获得组件的宏观视图。KLA WI-2250包括一个光学子系统和一个样品处理子系统，它们共同提供彻底和高度准确的缺陷检测。TENCOR WI-2250的光学子系统能够以多放大倍数检测晶片，从而实现精确、深、大面积缺陷检测。光学子系统广泛使用了强大的激光器.激光被仔细聚焦，以投射高强度的光束横跨样品表面的宽度。当激光束撞击部分样品时，它会触发专门的光传感器，可以检测样品中的缺陷和不间断的样品表面之间的任何差异。这样就可以准确检测到微裂纹、针孔、颗粒或污染物等小缺陷。WI-2250的样品处理子系统负责扫描和移动样品，以便捕获高度精确的表面显微镜图像。示例处理子系统包括用于精确定位和识别缺陷位置的高分辨率目标系统。此子系统还能够自动将样本与关联的模式对齐,从而可以快速识别两者之间的任何扭曲或未对齐。KLA/TENCOR WI-2250在缺陷检测方面提供了无与伦比的准确性。它以检测最小缺陷的能力而闻名，允许在半导体制造中进行卓越的质量控制。该单元的放大倍数范围很广,因此可以提供晶圆表面的详细图像。此外,KLA WI-2250的目标机器有助于快速准确地查明样品中的任何缺陷位置。这一切结合起来,提供了一个全面和高度可靠的掩模和晶圆检验工具.