二手 KLA / TENCOR WI-2280 #9382888 待售

KLA / TENCOR WI-2280
製造商
KLA / TENCOR
模型
WI-2280
ID: 9382888
Wafer inspection systems, 6".
KLA/TENCOR WI-2280面膜和晶圆检测设备是一种综合性机器,为非导电试验基板提供完整的粘结和静态检测解决方桉。它使用独特的光学系统来识别缺陷,包括导电颗粒、短裤、开口和基板缺陷。KLA WI-2280还提供各种角度和放大倍率的高分辨率图像。TENCOR WI-2280利用先进的光学设备对整个测试基板进行检查,从各个角度和放大倍率产生高对比度图像。成像光学器件以全彩色捕捉测试基板清晰清晰的图像,放大倍数可达1000倍。该光学器件还允许对测试基板进行顶部和二级表面成像,从而使机器能够识别宽度降至0.35 µm的缺陷。WI-2280还具有自动图像捕获和处理工具,旨在提高缺陷分析的速度和准确性。它能够每秒摄取多达1500张图像,图像处理可以提高测量精度,减少测试时间。此外,自动图像分析软件允许用户自定义图像分析的灵敏度,并快速识别缺陷的存在和像素区域。KLA/TENCOR WI-2280还包含一个自主缺陷分类资产,该资产自动对检测到的缺陷进行排序,以获得快速通过/失败结果。这允许用户快速确定样本是否通过测试或需要进一步分析。此外,该模型还通过其集成的OCAP软件提供灵活的匹配功能,使用户能够根据其特定要求调整匹配参数。总体而言,KLA WI-2280是一种综合性的机器,为非导电试验基板提供完整的粘结和静态检测解决方桉。它利用强大的光学设备、自动图像捕获和处理系统,以及自主缺陷分类单元,快速准确地识别和分类宽度不超过0.35µm的缺陷。OCAP软件的灵活匹配功能进一步提高了机器的准确性和速度,使用户能够有效地执行通过/失败检查和详细分析。
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