二手 KRAUTKRAMER USK-7B #293667707 待售

KRAUTKRAMER USK-7B是一种用于200mm-450mm直径晶圆和口罩的生产测试的口罩和晶片检测设备。它采用高分辨率成像系统和高速图像处理装置，对掩模和晶片表面发现的缺陷和不规则性提供可靠的测试结果。USK-7B台机器的视野为710 x 710mm,最大图像分辨率为1024 x 1024像素。它具有高灵敏度的第四代CCD图像传感器,具有可调的曝光时间,可捕获晶圆和掩模表面的细小和粗糙缺陷。图像处理工具使用高速数字信号处理器（DSP）来分析拍摄的图像，将其与参考图像进行比较，并检测蒙版和wafe表面的任何不规则性或缺陷。KRAUTKRAMER USK-7B配备了明亮的LED环形照明器，它在面罩和晶圆表面提供均匀的照明，允许对面罩和晶圆进行清晰、精确的检查。其强大的光学资产包括一个大的物镜，允许对许多不同种类的缺陷进行成像，包括晶圆和掩模表面上的微缺陷和粘性缺陷。该模型的复杂模式识别技术能够分析缺陷分布,有助于确定潜在的过程问题。USK-7B还配备了一个可选的厚膜测量单元,该单元能够测量晶圆和掩模上的厚膜（超过10微米的厚膜）的高度。这有助于在批量生产之前确定光刻工艺的任何潜在问题。KRAUTKRAMER USK-7B除了具有高灵敏度的成像和处理能力外，还包括一个用户友好的界面，便于操作和控制。生成的报告可以以多种格式导出,并保存起来供历史参考,USK-7B成为半导体生产质量控制的理想工具。