二手 KURODA Nanometro 450TT #293645313 待售
网址复制成功！
单击可缩放
KURODA Nanometro 450TT是一种高度先进的掩模和晶圆检测设备，将超高分辨率成像和测量与可见光和红外线相结合。它旨在彻底检查和分析制造半导体器件所需的口罩和晶片的图桉、形状和缺陷。纳米450TT结合了先进的光学、先进的计量和图像采集技术以及软件分析程序，提供高分辨率的成像和测量能力。该单元包含的成像系统能够提供高达265百万像素的分辨率图像，即使是面罩和晶片中最小的缺陷和几何特征也能提供无与伦比的细节。利用这些技术，KURODA Nanometro 450TT能够进行广泛的测试和分析，包括表面缺陷检查、图样登记检查、迭加测量、标线登记检查和成分分析。在表面缺陷检测方面，纳米450TT能够检测到面罩和晶片上最小的缺陷和杂质。该机可以测量0.07微米的最小线条和空间，使其能够以最精确的方式检测甚至最小的缺陷和形状。此外,该工具还能够检测和测量位移和位移角度,其测量值可低至0.1埃,从而能够对几何特征进行极其精确的分析。最后，该资产还可以提供全面的材料分析，通过测量全面积运动特性、粒子分析、表面粗糙度和湿度以及正负材料应力。KURODA Nanometro 450TT利用神经网络进行模式识别，能够以每秒1000条微线测量和检测模式。该模型还可以测量覆盖偏移，精度低至1纳米，使光谱覆盖分析成为可能。此外，该设备可以测量面罩和晶片的角度，低至1毫弧度，允许高度精确的定位。最后，Nanometro 450TT还具有直观和用户友好的图形用户界面，允许系统的简单和直观的操作。此外,还可以对设备进行远程控制,从而提供最大的灵活性和便利。总之，KURODA Nanometro 450TT是一种非常先进的掩模和晶圆检测机，能够提供无与伦比的分辨率和准确性。该工具结合了先进的光学、计量和图像采集技术以及复杂的软件分析程序，以便能够对掩模和晶片进行全面和高度精确的检查和分析。此外,用户友好的图形用户界面使资产易于操作且直观,从而提供了最大的便利和灵活性。
还没有评论