二手 KURODA Nanometro #196389 待售

KURODA Nanometro是下一代的掩模和晶圆检测系统，专为方便地快速准确地测量和分析纳米级结构而设计。该设备能够以高达10nm的高分辨率自动检查，同时仍然能够测量更大的结构和缺陷。它是可配置的，包括一个获得专利的数据处理算法，允许高精度地检测和表征纳米级缺陷。利用Nanometro，可以在短时间内完成结构和缺陷表征。KURODA Nanometro的关键特性包括高精度和速度。高速双像素技术实现了高精度测量。这与先进的算法相结合，即使在较高的放大倍率下也能快速检测到细微的缺陷。检查系统提供多种扫描模式,以适应不同大小和类型的对象。用户友好的用户界面可轻松控制扫描频率和扫描模式等成像参数。该单元还包括一个带有实时图像处理和图像分析工具的软件包。这允许用户快速参数化机器并实现数据的精确表示。Nanometro体积小巧,重量轻,易于集成到现有的测试装置中。它内置的缺陷库可确保可重复性,从而限制了查找缺陷所需的时间。缺陷库允许用户保存、审阅数据并将其导出到中央存档以供将来参考。此外,该工具具有低噪声功能,无需使用降噪系统或任何附加硬件,从而降低了总体成本。总体而言，KURODA Nanometro是最重要的速度和精度项目的理想选择。Nanometro具有卓越的用户友好性和易集成性、先进的成像功能以及缺陷库,无疑是检查纳米级特性的绝佳资产。