二手 LEICA APECS 3020 #9410740 待售

LEICA APECS 3020是一款高性能的掩模和晶圆检测设备，旨在满足半导体行业的严格需求。该系统通过提供一系列自动方法快速准确地检查掩模和晶片来消除手动错误。该装置能够检查直径不超过6英寸、特征尺寸不超过1.0um的光刻面罩,并通过其先进的成像技术提供卓越的3D分析能力。APECS 3020利用先进的自动光学检查（AOI）技术，快速准确地检查掩模和晶圆图样。AOI使用数字图像采集从掩模表面获取成像数据，然后处理这些数据生成数字图像。然后分析此图像,并将其与预先定义的一组标准进行比较,以检测和识别潜在的掩模缺陷或不规则性。该机配备了高精度级和先进的软件算法，以确保精确精确的晶圆检测。高分辨率阶段允许精确检测晶片表面上的小特征,而高级软件算法有助于确保对掩模表面上的特征进行精确的位置测量。LEICA APECS 3020还具有直观的控制和易于使用的用户界面,用于直观操作以及对掩码和晶圆检查过程的精确控制。可通过触摸屏和符合人体工程学的键盘访问所有工具控件。资产还提供多种数据存储格式,如TIFF、JPEG、RAW、GIF和BMP,用于保存分析结果。APECS 3020配备了多种高级功能,以确保在尽可能短的时间内获得最佳效果。这些功能包括高速扫描、内置缺陷修复、自动对焦控制、高级图像处理和数据分析功能、逐像素掩码检查、自动缺陷校正和自动报告功能。这些特性结合其先进的掩模和晶圆检测技术，提供了无与伦比的准确性、可靠性和速度。总之，LEICA APECS 3020是为满足半导体行业的严格需求而设计的强大的掩模和晶圆检测模型。该设备配有先进的光学设备、直观的系统控制以及各种自动化和分析功能,能够快速准确地分析掩模和晶片。APECS 3020可以帮助确保所有半导体器件的最高质量和可靠性。