二手 LEICA INS 2000 #293626746 待售
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LEICA INS 2000是来自LEICA Microsystems的掩模和晶圆检测设备。该免提装置旨在最大限度地提高吞吐量,并识别最复杂的掩模向下光刻系统上最小的缺陷,最高可达1 X、2 X和5 X标线,是快速检查临界正面和背面掩模缺陷的理想之选。INS 2000包括先进的运动学和诊断技术,对于确保掩模和晶片或薄膜的精确对齐至关重要。通过自动设置、并行检测和晶圆测量,机器消除了操作错误,并消除了手动对准所浪费的时间。这样可以确保以最快的速度获得最高质量的结果。LEICA INS 2000使用名为"共焦成像"的专利光学方法，以最高分辨率检查掩模和晶片表面。这种方法依赖于一种基于低功率激光光源与掩模或晶片表面相互作用的成像技术。该工具捕获具有亚微米分辨率的曲面结构的高分辨率图像。INS 2000配备了自动缺陷跟踪软件，以进一步减少人工，实现更准确可靠的结果。资产还具有缺陷分类和优先级划分选项,这些选项通过根据大小和特征属性对检测到的缺陷进行分组来简化流程。这样可以确保更高效的生产过程,并有助于降低成本。LEICA INS 2000还采用模块化设计,可根据生产需求的变化轻松调整模型。结合其高速度、准确性和可重复性，使其成为高吞吐量检测过程的理想选择。INS 2000是一种先进的掩模和晶圆检测设备，它采用了最新的技术和成像技术来识别精确的表面地形。该系统能够快速高效地检查掩模和晶片表面,这对于提供一致和可靠的最终产品至关重要。LEICA INS 2000采用模块化设计和专利光学系统,是一种无与伦比的屏蔽和晶圆检测系统解决方桉。
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