二手 LEICA INS 300 #9298489 待售

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晶圆检测
製造商
LEICA
模型
INS 300
ID: 9298489
优质的: 2005
Wafer defect inspection system 2005 vintage.
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LEICA INS 300是用于微电子制造的最先进的半导体计量面罩和晶圆检测设备。这台高度专业化的机器结合了高级光学、高分辨率成像和精确的运动控制,以准确评估各种掩码和晶圆应用所需的特性。该机具有真空密封、无空气的环境,可确保光学清晰度和30毫米视野。它的扫描激光组件允许高度成像精度，提供高达0.7微米的分辨率。此外,通用的数字成像系统每秒最多可拍摄10张图像,从而确保所捕获图像的最大保真度。INS 300采用了强大的自定义软件算法来优化其成像和分析功能。它的复杂算法使它能够通过各种标准和专有技术快速识别和分析模式和缺陷。其中包括光学分辨率成像测量（ORIM）、傅立叶变换红外（FTIR）光谱、数字交叉相关（Dictual Cross Correlation，DCC）技术。它还为用户提供了创建自己的自定义算法以满足特定需求的能力。为了进一步提高其精度和可靠性，LEICA INS 300配备了各种运动控制器、伺服电机和加速度计。这些组件使设备能够针对不同的条件快速、精确地调整不同运动的灵敏度。INS 300保证了整体性能、可靠性和准确性。它是各种检查任务的理想选择，从基本的光学测试到复杂的计量应用。凭借其卓越的机器体系结构和精确的测量,它可以帮助确保用于制造的掩模具有尽可能高的功能级别。
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