二手 LEICA INS 3000 DUV #293628457 待售

LEICA INS 3000 DUV是一款领先的面罩和晶圆检测设备，设计用于检测亚微米缺陷。该系统提供高分辨率、自动化的映像解决方桉,使用户能够快速识别和识别各种应用程序的缺陷。借助量子测井探测器,INS 3000 DUV可提供高动态范围和更大的信噪比。LEICA INS 3000 DUV具有探测最小颗粒的能力，低至0.1µm，同时在硅片、光掩模、玻璃板、陶瓷封装和其他金属化物体等多种基板上提供优异的效果。它可以检测污染，以及查明缺陷、裂缝和凹坑。该单位提供高等级的扫描和检查技术，使用户能够实现样品的全覆盖，确保与人工检查相比，在一小部分时间内进行可靠的缺陷检测。自动化软件设置提供了一种简化的方法,可根据用户的特定需求优化计算机并准确识别缺陷。INS 3000 DUV还提供了一套全面的打印分析工具,以确保表面连续性和背景减法功能。各种图像处理和过滤功能有助于提高准确性，缩短检查周期。总体自动化模式允许工具扫描样本并生成尽可能高的对比度图像以获得最佳检测结果。除了为用户提供卓越的检测能力外，LEICA INS 3000 DUV还允许他们定义自定义蒙版、验证几何形状以及测量参数，以快速识别潜在缺陷。它还提供可重复性测试和自动缺陷分类,并允许广泛的用户控制,包括放大、图像处理、分辨率、亮度、对比度和缺陷阈值。INS 3000 DUV非常适合需要自动聚焦、标记或缺陷审查的过程,因为它提供了高分辨率的3D扫描功能。它的双面视图和多场缝合技术能够快速精确地进行测量。总体而言,LEICA INS 3000 DUV是检测和表征掩码和晶片应用中的缺陷的高效而精确的资产。它为用户提供了快速、准确和可靠的扫描和检测表面缺陷的方法,同时还提供了各种可定制的功能和工具。