二手 LEICA INS 3000 #293619072 待售

LEICA INS 3000
製造商
LEICA
模型
INS 3000
ID: 293619072
Wafer defect inspection system SMIF.
LEICA INS 3000是一款功能强大的掩模晶片检测设备,提供全面的质量控制和生产过程控制。该系统是专门为帮助提高产量和产量在生产过程中,确保更高的晶圆质量量身定制。该单元采用高功率180kV平板X射线源,可为掩模或晶片上的所有层提供清晰清晰的图像,而不管该层的方向或复杂性如何。机器的成像能力大大减少了检查时间,因为可以同时检查多层和多个区域。该工具还具有激光聚焦能力,可用于检查任何尺寸或任何材料。此外,LEICA INS-3000使用基于数字图像处理中使用的相同原理的算法提供了一种自动缺陷检测功能。这样可以确保最大精度,同时保持最高质量控制级别。检查资产包括种类繁多的图像处理软件,如直方图处理、自动阈值设置、形态功能等。所有这些功能都有助于识别掩模或晶片上的缺陷和差异。INS 3000还具有直观的图形用户界面(GUI),可轻松控制和导航模型。GUI还允许存储掩码和晶圆检查结果,以便将来进行比较和参考。此外,该设备能够连接到外部数据库,便于共享和整理掩码和晶圆检查数据。最后,INS-3000包括一个综合警报系统,在检查过程中提醒操作员任何差异或潜在缺陷。这有助于减少停机时间,因为运营商能够快速识别和纠正任何令人关注的问题。总体而言,LEICA INS 3000面膜和晶片检验装置是确保任何生产线最高质量控制水平的宝贵工具。高功率成像功能、自动缺陷检测和集成警报机有助于提高产量并减少停机时间,而直观的图形用户界面和外部数据库连接则允许对检查数据进行快速校对和分析。
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