二手 LEICA INS 3000 #293635907 待售

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製造商
LEICA
模型
INS 3000
ID: 293635907
Wafer defect inspection system.
LEICA INS 3000('mask&wafer inspection'设备)是设计用于半导体工业的专业级工具。由LEICA Microsystems开发,结合了掩模检测系统、晶圆检测单元和自动化过程控制机器的功能。该工具由第4代英特尔Core-i7处理器提供支持,并与Windows 7x64 Ultimate操作资产一起运行。它具有32 GB的RAM,以及用于数据存储的500 GB硬盘。用户界面为10.4英寸TFT液晶触摸屏显示屏。LEICA INS-3000采用紧凑的封闭式干涉仪,允许高分辨率检查,减少光源噪声。它还有一个刚性光学模型,旨在最大限度地减少气流的波动。这样可以确保最佳的图像分辨率和质量。设备配备了先进的全自动检查流程。系统可以检测到尺寸低至0.02微米的掩模或晶圆中的缺陷。它具有检查一系列特征(如线边和圆形特征)的灵活性。该单元还支持过程控制监控,通过减少停机时间和产量损失来节省时间和资金。它以速度和精确度检查诸如蚀刻电路、光致抗蚀剂、介电和透硅通气(TSV)等材料。INS 3000面膜晶片检测机在满足半导体行业需求方面表现出色。配备先进技术,耐用,可长期用于工业环境。该工具提供了出色的成像、过程控制功能和数据存储,从而实现了更高效的板载生产。
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