二手 LEICA INS 3000 #293689181 待售

製造商
LEICA
模型
INS 3000
ID: 293689181
优质的: 2000
Wafer defect inspection system 2000 vintage.
LEICA INS 3000是一种坚固的掩模和晶圆检测设备,以其先进的设计、领先的分辨率和可靠的自动化过程而闻名。它能够扫描300 mm晶圆的全自动处理过程的缺陷捕获,提供了一个易于使用的设计,非常适合在最微小的水平上以最高的精度分离缺陷。该系统通过其集成的一套高分辨率光学工具来检测、表征和分类物理和电气缺陷。其中包括Tomo宽带照明阵列、现场发射SEM单元以及高分辨率RGB成像。进一步使LEICA INS-3000的性能受益的是它对一系列提高产量的图像处理功能的支持。其中包括高级特征和密度检测、智能模式识别,以及用于捕获光栅和尺寸为0.2 μ m的特征的精密缝合。此外,集成的缺陷预分选模块利用现有的库数据和自动报告功能提供了最高的准确性级别。该股还配备了许多灵活的分析工具,主要用于协助工程师开发创新的工艺检查解决方桉。集成软件套件具有增强的AutoFE-SAM分析功能,包括图像照明控制以及一套改进的比较图像处理工具。改进的模式识别功能还辅以现场培训课程和教程,使客户能够定制他们的视觉检查分析。凭借灵活的配置,INS 3000机还支持端面和线键检测、颗粒检测、多种应用的具体检测等多种生产操作。它与其他自动化设备的紧密集成保证了更快、更可靠的处理性能。总之,INS-3000工具提供了可靠的自动掩模和晶圆检查.它旨在满足半导体行业对具有先进检测能力、快速吞吐量和高级缺陷分类功能的工具不断增长的需求。
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