二手 LEICA INS 3000 #9186595 待售

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製造商
LEICA
模型
INS 3000
ID: 9186595
晶圆大小: 8"
优质的: 1999
Wafer defect inspection system, 8" SMIF 1999 vintage.
LEICA INS 3000是一种掩模和晶圆检测设备,能够对高密度半导体产品进行精确的测量。这一先进技术增强了质量控制,减少了出错的机会。该系统由两个主要组成部分组成:原子力显微镜和高倍率光学显微镜。AFM用于测量每个晶片的三维形状和识别细微的地形特征。光学显微镜使用卤素灯检测晶片层和光刻图样中的缺陷。LEICA INS-3000具有大型桌面设置,可容纳大型晶圆。它有一个精确的机械手在检查时精确移动晶片,以及一个倾斜调整来调节显微镜的角度。该单元还集成了先进的软件,为一次检查多个功能提供了直观的工具。用INS 3000检查每个晶片的过程是自动化的。一旦操作员将晶片放在桌子上,检查过程就会启动。然后机器将使用AFM来测量晶片的三维形状,并检测光学显微镜可能没有检测到的任何缺陷。INS-3000包括一整套用于分析检查结果的后处理软件功能。它提供易于阅读的图形和数值来量化测量的准确性。该工具还生成详细的日志,用于分析任何进程更改。LEICA INS 3000是一种结合了精确度和精确度的最先进的晶圆检测资产。它具有直观的界面和强大的软件,是高密度半导体生产和质量控制的理想选择。该模型提供了改进的过程控制、更高的可靠性和更好的产量。
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