二手 LEICA INS 3000 #9200394 待售

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製造商
LEICA
模型
INS 3000
ID: 9200394
Wafer defect inspection system.
LEICA INS 3000是最先进的掩模和晶圆检测设备。它具有业界最高的分辨率和放大能力,适合最苛刻的检验应用。该系统结合了高精度光学单元和高功率成像机。这种组合使得LEICA INS-3000非常适合检测集成电路和其他组件中的微小缺陷。该工具采用独特的、紧凑的光学设计和电动半球镜,确保整个检查区域的整洁和均匀的层压。该资产的检测精度为0.5um,是检测半导体掩模和晶圆的理想选择。此外,INS 3000还配备了先进的CCD摄像头,能够捕获高达4K分辨率的图像。这些高分辨率图像可帮助用户清晰识别可能导致生产问题的微小甚至亚微米缺陷或颗粒。INS-3000具有快速和详细检查功能的多步骤检查模型。此设备检查每个像素,并检测晶片或掩模中的任何分钟不一致。此外,系统还附带软件,使其能够自动调整颜色和对比度级别,以确保准确的结果。LEICA INS 3000可以快速轻松地处理大量数据,其圆滑的用户界面使用户更容易控制单元和解读检测数据。机器还包括一个全面的报告和分析功能,用户可以使用它生成详细的检查报告。该工具也非常可靠,几乎免费维护,是批量生产的理想选择。LEICA INS-3000是一种功能强大、可靠的掩模和晶圆检测资产,提供无与伦比的准确性和效率。它易于操作、高度可靠,并提供出色的分辨率。对于任何想要在检验过程中保证质量和准确性的半导体制造商来说,该模型是一个理想的选择。
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