二手 LEICA INS 3000 #9285578 待售

LEICA INS 3000是一种综合性的掩模和晶圆检测设备，设计用于对电子器件的图样保真度、缺陷、蚀刻和薄膜厚度进行精确检测。利用获得专利的光学设计和先进的成像技术,LEICA INS-3000可实现亚微米分辨率成像和特征分析,从而满足最严格的行业标准和应用。该系统包括高效算法和提供精确成像和检查的模块化光学扫描单元。INS 3000使用双掩码和晶片机，允许用户实时监控和查看现场图像。该工具具有独立的激光二极管照明源和可调光功率输出。GRIN光学和极化敏感的扩展景深（EDF）目标进一步优化了成像分辨率,减少了由于光路像差造成的特征伪影。INS-3000具有高分辨率的数字半导体成像仪，它捕获晶圆上孤立特征的图像，动态范围大于4个数量级。该资产还包括一系列专门的信号处理技术，用于吞吐量和降噪，以确保可靠的缺陷检测和分析。此外,LEICA INS 3000还利用颜色编码参数模型,这些参数可以进行操作和微调,以识别最精确的缺陷或特征,从而实现最准确的分析。掩模和晶片成像设备采用先进的自动模式识别技术，能够快速测量和检测晶片上最小的缺陷。通过完全可定制的图形用户界面和动态过程控制系统，用户可以快速配置设备以满足其特定的检测要求和规格。在最先进的半导体技术中,LEICA INS-3000非常适合电子设备原型设计、制造和故障分析。该机器能够检测和分析非常小的特征尺寸（<0.5 μ m）,并提供可靠的结果,具有高精度和重复性。INS 3000具有高吞吐量、低噪声和直观的特性,为掩模和晶圆检测提供了全面、经济高效的解决方桉。