二手 LEICA INS 3000 #9410355 待售

LEICA INS 3000是为半导体制造工艺设计的综合性掩模和晶圆检测设备。该系统吞吐量高,拥有成本低,非常适合铸造厂、IDM和领先或独立的工厂。LEICA INS-3000是为最大程度地提高可靠性和灵活性而构建的,它为各种应用程序需求提供了真正的无缺陷检查能力。其先进的光学和软件技术提高了检查的速度和准确性，确保了所有缺陷的快速识别和消除。INS 3000单元由一台精密的晶圆检测光学机器和一个集成的可编程掩模检测工具组成。其光学元件利用基于傅立叶光学的自动线扫描显微镜，提供高分辨率和对比度。将CCD网格阵列集成到资产中,提高了检测速度和效率。精密扫描仪、激光器、远心投影光学器件和激光自动对焦都被纳入其中，从而实现了一流的缺陷检测能力。该模型还具有一个可编程掩模检查设备，该设备采用了与光学元件集成的高分辨率、多波长成像系统。它被设计用来检测光掩模和标线上的缺陷，具有高灵敏度和对比度水平。该单元还具有强大的SuperMUM算法,可以检测表面缺陷（如划痕、指纹等）以及边、边和角、亚像素颗粒和污染物。除了光学机器和掩模检查工具外，INS-3000还配备了一套用于数据分析和报告的软件解决方桉。它使用户能够快速识别和分类缺陷,并与检查小组的其他成员共享报告。先进的3D缺陷表征资产也与软件集成在一起，允许用户获得有关个别错误的更详细信息。该软件用户友好且直观,允许更好的协作、决策和质量控制。LEICA INS 3000机型是为实现最高的性能和成本效益而设计的。其强大的设计和先进的技术确保了可靠、准确和高效的缺陷检测。使用直观的软件,用户可以在问题成为代价高昂的缺陷之前快速识别和纠正问题。LEICA INS-3000是半导体行业的理想工具，也是寻求全面、经济高效和可靠的掩模和晶圆检测设备的制造设施的绝佳选择。