二手 LEICA INS 3000 #9412578 待售

LEICA INS 3000是为半导体检测而设计的掩模和晶圆检测设备。它是一个高性能、高精度的系统，能够提供符合所有主要半导体行业标准的检查。LEICA INS-3000利用高分辨率的CMOS和CCD探测器以及物镜系统地扫描晶圆和掩码以发现一系列半导体缺陷。该单元提供了广泛的检查模式，包括沥青提取、分割成像和全场检查。间距抽取检查对于分析掩模上紧密间隔的图样非常有用,而分割成像设计用于检测密集和分散图样中的某些类型的缺陷。全场检查允许最高分辨率和准确性,因为它们以精确的精度扫描和比较掩码上的每个像素。INS 3000还利用了先进的图像处理技术。这些包括自动对齐、缺陷分类和多尺度分析,使机器能够一致地识别缺陷。此外,该工具的innerviewer技术还提供实时反馈,以便在检测到缺陷时向用户发出警报。该资产设计为易于使用,并提供与各种软件和硬件组件的集成选项。用户友好界面简化，操作快捷高效，自动化对准和测量功能简化了设置检查和检查结果的过程。INS-3000是任何半导体生产应用的理想掩模和晶圆检验模型。其分辨率和准确性使其在检测和分析各种半导体缺陷时极为可靠。设备高度人性化，使操作员快速有效地设置和运行系统变得简单。LEICA INS 3000具有广泛的检测模式和先进的图像处理能力，为执行全面半导体检测提供了高效可靠的方法。