二手 LEICA INS 3300 #293628459 待售

LEICA INS 3300是为最苛刻的半导体应用而设计的世界领先的创新面罩和晶圆检测设备。它具有多种尖端功能,包括近场光学显微镜（NFOM）、背面成像以及提供晶片正面和背面高分辨率图像的先进低光成像功能。该系统配有一个模块，使其能够与各种类型的自动化系统相结合，允许完全集成到生产过程中。LEICA INS3300使用独特的多波长成像单元，对硅晶片正面和背面的缺陷特征提供清晰的可视化。该机器能够检查直径可达300毫米的晶圆大小,并具有符合人体工程学设计的载荷站,可自动加载、卸载和倾斜晶圆。该工具提供各种图像采集和图像分析工具,使您能够快速高效地执行高密度的晶片检查。它可以检测各种缺陷，如划痕、针孔、颗粒、表面污染和线宽变化。INS 3300先进的缺陷分类工具可以准确测定缺陷类型，使其能够用于高级产量分析。INS3300还提供了一个集成的缺陷审查资产,可以快速轻松地对缺陷进行审查和管理。此模型允许与其他各种软件套件集成,并提供可定制的用户界面,以便于操作。总体而言，LEICA INS 3300是为最苛刻的半导体应用而设计的先进的掩模和晶圆检测设备。它提供了一套广泛的图像采集和图像分析工具、高级缺陷分类功能以及集成的审查和管理系统。LEICA INS3300结合了最先进的功能和自动化功能,是一个功能强大且可靠的检验单元,可帮助您确保高产量和产品质量。