二手 LEICA INS 3300 #9410296 待售

製造商
LEICA
模型
INS 3300
ID: 9410296
优质的: 2003
Wafer inspection system FOUP Loadport, 12" 2003 vintage.
LEICA INS 3300是专门为高端微电子器件检测而设计的掩模和晶圆检测设备。它是由德国精密技术公司LEICA Microsystems开发的,用于在检查这些高度复杂的部件时确保生产级的速度和精度。该系统由几个组件组成:一个用于最佳照明和成像的集成光束输送装置、一个用于高分辨率检查的野外发射枪、一个用于样品制备的后坐力模块和一个用于控制样品位置的多轴电机。所有这些组件都安装在坚固的模块化外壳单元中。这种专有设计最大程度地提高了工具的灵活性和多功能性,使其非常适合在一系列半导体工艺和产品应用中使用。LEICA INS3300具有直观的用户友好界面,便于在不同的操作模式之间移动,如自动导航、迭加比较工具和模式比较。这使工程师能够快速配置资产以轻松满足特定的检查要求。此外,该模型还提供了一系列可供用户选择的成像模式,如特写缩放、最大图像大小和单芯片掩码,以及可重复的检查参数和感兴趣的区域。INS 3300的独特特点包括启动时间快、高精度纳米精度以及能够在不影响图像质量的情况下对大面积进行成像。此外,它的模块化体系结构允许易于互换的部件和易于维护。总体而言,INS3300是一种最先进的掩模和晶圆检查设备,提供无与伦比的速度、精度和灵活性。它非常适合用于半导体和微电子过程,提供快速启动时间和一系列用户友好的成像模式,以获得最佳效果。这样,它可以确保快速准确地识别任何缺陷,并以最低的相关能源成本。
还没有评论