二手 LEICA INS 3300 #9412588 待售

LEICA INS 3300是为保证半导体工业中使用的硅片质量而设计的掩模和晶片检测设备。该系统能够检测亚微米级图样图像的缺陷，准确测量晶圆表面物体的尺寸和形状。利用先进的光学显微镜和高分辨率相机，LEICA INS3300可以将晶片图像放大到原始尺寸的2000倍。这样可以精确检查晶圆内所含的细微元件。然后，一个复杂的图像处理引擎利用图像识别算法来发现图像中任何可能指示缺陷的不规则性。INS 3300还采用了功能强大的无透镜检测技术，使设备能够检测缺陷，而不必在多层次放大图像。这使机器能够比传统方法更快速、更准确地检查晶圆。这也减少了处理时间和潜在的人为错误。该工具具有高度精确的线性级,使扫描能够以高精度覆盖晶圆的整个表面。同时，该资产能够选择不同高度的透镜提升离开晶片表面的不同层次的检查。直观的用户界面简化了与模型的交互，并提供了一种简单、高效的设置和启动扫描的方法。报告设备还允许用户对扫描过程中发现的任何违规行为进行分类,并将其存储起来以备将来参考。INS3300配有一系列附件,例如可编程LED显示屏和软件工具,以方便将系统集成到现有工作流程中。通过一系列行业认证，包括ISO9001，这一单元确保半导体制造商获得最高质量的检验服务。