二手 LEICA / LEITZ MIS 200 #293615353 待售

LEICA/LEITZ MIS 200是为精密半导体器件制造而设计的高度先进的掩模和晶圆检测设备。它利用高分辨率成像和检测技术，确保所有缺陷和外来粒子被识别、隔离和记录。这种自动检查系统为同时分析和表征几层缺陷和颗粒提供了一个总体解决方桉。检测单元的内置硬件和软件配置可以快速检测、交叉匹配和分析掩码和晶片模式。它还具有广泛的自动化能力，包括自动晶圆对准、晶圆旋转和调节。机器高度可配置,允许用户自定义滚入工具以满足特定的流程需求。LEICA MIS 200采用高分辨率成像实现亚微米精度，并采用全集成自动工具进行更快、更精确的晶圆检测。它还带有高速测量、缺陷和粒子表征以及缺陷定位的专有算法。一种先进的缺陷类型识别算法允许缺陷自动标记和缺陷分类。该资产为设计、编辑和分析检验结果提供了强大的软件。直观的GUI有助于简化和简化整个过程。LEITZ MIS 200还支持多层数据审查和分析,因此用户可以快速识别和定位缺陷。除了先进的硬件，MIS 200还附带了全面的服务包。这些措施包括现场干预、预防性维护、审计和流程分析。这样可以确保客户受益于长期服务和快速解决任何问题。总体而言,LEICA/LEITZ MIS 200提供了一个高级的总解决方桉,可用于精确的掩模和晶圆检查及表征。其可配置的硬件和软件，加上全面的服务包，使其成为满足半导体器件制造需求的理想选择。