二手 LEICA / VISTEC INS 1000 #10628 待售

LEICA / VISTEC INS 1000
ID: 10628
Automated Wafer Inspection systems.
LEICA/VISTEC INS 1000是一种高精度的掩模和晶圆检测设备,设计用于对各种应用中的电路特征进行高分辨率和精确的测量。该系统采用高分辨率CCD摄像机、激光和光学装置,可以对晶片进行高速最佳检测。这台机器比以前版本的改进包括更快的测量和更高的分辨率。LEICA INS 1000使用1.8K-pixel CCD相机,像素尺寸为1.4微米,最大分辨率为0.75超¼米,使其能够检测晶圆表面上的小缺陷特征。该激光器能够测量几纳米,精确度为¼米。该工具还能够方便地获取需要进行分析的晶圆特定区域的图像。这有助于快速查看任何缺陷,而不必在测量之间移动整个晶片。此外,资产还提供相对于特征的三个运动轴,并允许运算符移动以补偿特征的不同旋转角度。模型中包含的软件允许用户快速查看测量结果并生成报告。报告可以pdf或jpg等多种格式生成,以便于查看,也可以导出到其他格式以进行进一步分析。除了晶圆检测外,设备还可以用于故障分析。软件可以分析来自被测设备的任何类型的图像,并识别任何潜在的缺陷或错误。它还提供了随时间比较测试结果以发现和比较趋势的能力。总体而言,VISTEC INS1000对晶片上的特性提供精确和准确的测量,从而能够在各种设备和应用中对缺陷和故障分析进行高质量的记录。
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