二手 LEICA / VISTEC INS 3300 2ei #9206797 待售

LEICA/VISTEC INS 3300 2ei是一款最先进的口罩和晶圆检测设备，旨在满足半导体行业的最高质量保证标准。它是一种先进的自动检测技术，用于从开发、原型阶段到生产阶段对半导体材料进行精确缺陷分析。该系统采用先进的光学和成像技术，捕获被高速扫描和处理的掩模和晶圆表面的数字图像。与各种系统兼容，提供全面的4D检测能力，视野高达17.6mm。该软件具有集成的AI和模式识别技术,可实现自动模式识别和缺陷检测/分类。利用先进的3D缝合技术,用户可以以亚微米的精度捕获图样的自上而下和侧视图像。LEICA INS 3300 2ei还提供了广泛的高灵敏度成像和分析工具，以确保缺陷检测的最大精度和可靠性。通过高速、低噪声检测过程确保检测时间最短。综合缺陷分析包括缺陷定位、侧视图分析和测量，这要归功于先进的算法。用户友好的图形界面提供了对设备设置的完全控制,并允许配置流程参数以满足不同的要求。软可编程参数是工艺优化的理想选择，能够快速适应产品组合的变化。该机还可以集成到线路监控系统中，以实现完全可追踪性。综上所述，VISTEC INS 3300 2ei是专门为半导体行业设计的先进的掩模和晶圆检测工具。它结合了强大的成像和分析能力以及全面的缺陷分析,非常适合高质量的生产过程。自动可编程功能使资产性能的设置和维护变得容易，集成到线路监控系统中使其适合追溯。