二手 LEICA / VISTEC INS 3300 #191088 待售

LEICA/VISTEC INS 3300掩模和晶片检查设备设计用于使用模块化高灵敏度检查工具快速检查平版印刷掩模和晶片。该系统非常适合检查半导体产品的制造后和后期构建设计周期,帮助确保单个元件和组件符合产品完整性和可靠性的规范,以及在维修/返工操作期间。LEICA INS 3300检测仪使用自动化的全场成像机提供高速和高分辨率成像。该工具由CCD摄像机提供动力,该摄像机能够同时捕获2D和3D图像,并利用可精确对准掩模和晶片的电动晶片级。自动化的图像缝合技术可确保以任何速率或模式连续检查整个区域,从而减少检查站点的数量,同时提高图像性能。VISTEC INS 3300资产还提供了多种高性能软件工具,用于对捕获的图像进行后处理和分析。软件包括用于快速识别异常的缺陷分类算法、用于突出缺陷特征的对比度优化工具，以及允许用户调整颜色和对比度水平以增强分辨率的功能强大的光学滤镜。用户还可以应用各种图像分析工具来识别和查看蒙版和晶片上的目标缺陷。INS 3300型号先进、用户友好的界面为定制检查体验提供了广泛的功能和选项。该设备提供自动捕获和分析工具,使用户能够设计定制的检查例程,其参数可配置为优化检查过程。此外，该系统还提供了一个强大的报告工具，能够记录和审查检查数据。总体而言，LEICA/VISTEC INS 3300掩模和晶圆检验装置为半导体产品和任何其他要求准确性和速度的生产要求提供了可靠和全面的检验能力。凭借其高分辨率的成像、先进的软件工具、易于使用的界面和可定制的功能,该机器是任何检查或质量过程的理想选择。